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FXL-1型吸收率和法向发射率测量装置

    

         FXL-1型吸收率和法向发射率测量装置,主要用于测量固体材料的太阳吸收比和法向发射率。它是将吸收率测量装置和法向发射率测量装置合为一体,配有计算机和专用工作软件,实现自动测量的先进测量设备。本装置是由北京南奇星科技发展有限公司和航天著名专家那研究员联合研制。是航天系统测量专家的智慧结晶。本设备是国内首创,填补国内测量材料太阳吸收比和法向发射率仪器的空白,同时在测量方法上有进一步的创新。

法向发射率

测量范围:0.050.99 工作温度范围:-3080℃;

测量不确定度:当εn>0.7  为±1.5%         当εn<0.2  为±5%;其余为2%

 探测器:平面热电堆 峰值波长:8.411μm

吸收率

测量范围:0.020.99 工作温度范围:-3080℃; 真空度约为20Pa

测量不确定度:当αs>0.8  为±2.0%   当εn<0.2  为±4%;其余为2.5%

积分球直径:Φ150 光源高色温:220V300W

探测器:真空平面热电堆; 工作波长:0.352.5μm

       

光谱发射率测量装置

主要测量设备

红外光谱仪 

波长测量范围为(0.4~20μm)根据使用的要求选择测量波长范围

主要辅助测量设备

光学组件

移动平台等

     

    100~1100℃辐射标准和试样加热炉

标准和样品加热炉工作温度;300~1200℃;

样品加热温度:≤1100℃;

样品尺寸为:Φ59-0.5mm,厚度为1-4mm;

黑体和发射面直径:Φ40mm;温度稳定度:<±0.3℃;

电源:220VAC,10A;功率:≤2000W;

体积:控制器210×210×280mm,加热炉370×370×600mm

重量:约50kg

    800~2000℃辐射标准和试样加热炉   

     标准和样品加热炉工作温度;800~2000℃;  

样品加热温度:≤1500℃;

样品尺寸为:Φ30,厚度为2-4mm;

黑体和发射面直径:Φ25mm;温度稳定度:<±0.5℃;

窗口玻璃石英玻璃、溴化钾、氟化钙  

电源:3相45kW;功率:30kW;

重量:约700kg

 

     

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